نظرة عامة على جهاز اختبار الألواح الشمسية ومحاكي الشمس GIV-20A2616
إن جهاز اختبار الألواح الشمسية / محاكي الشمس Gsolar GIV-20A2616 هو نظام اختبار IV للوحدات الشمسية من الفئة A+A+A+ احترافي مصمم لقياس الأداء الكهربائي الدقيق لمجموعة واسعة من الوحدات الكهروضوئية. مع مساحة إضاءة قصوى تبلغ 2600 مم × 1600 مم ومدة نبضة طويلة قابلة للتعديل من 10 مللي ثانية إلى 100 مللي ثانية، يوفر محاكي الشمس هذا اختبار منحنى IV عالي الدقة للسيليكون البلوري، الأغشية الرقيقة، PERC، HIT، HJT، N-type، IBC، shingled، نصف الخلية، والوحدات الشمسية القائمة على شريط LRF/LHS.
مدعوم بتقنية GSNالخاصة، يحقق GIV-20A2616 قياسًا بومضة واحدة يلغي بشكل فعال تأثير السعة الشائع في الوحدات الكهروضوئية عالية الكفاءة وعالية السعة، مما يضمن نتائج اختبار موثوقة وقابلة للتكرار عبر جميع تقنيات الخلايا المتقدمة. وهذا يجعله حلاً مثاليًا للاختبار لخطوط إنتاج الألواح الشمسية الحديثة التي تنتج وحدات من الجيل التالي.
توفر Ooitech محاكي الشمس Gsolar GIV-20A2616 كجزء من حلول خطوط إنتاج الألواح الشمسية الشاملة، بسعة تتراوح من 5 ميجاوات إلى 1 جيجاوات. سواء كنت تقوم بإعداد منشأة إنتاج جديدة أو ترقية محطة مراقبة الجودة الحالية، فإن هذا الجهاز يوفر الدقة والإنتاجية اللازمة لتصنيع الوحدات الاحترافي.
المواصفات الفنية
معلمات الأداء الأساسية
| المعامل | المواصفة |
|---|
| الموديل | GIV-20A2616 |
| التصنيف | الفئة A+A+A+ |
| أقصى مساحة مضاءة | 2600 مم × 1600 مم |
| نوع المصباح | مصباح زينون |
| عمر المصباح | 60,000 ومضة (قياسي)؛ ≥100,000 ومضة عند مدة نبضة 10 مللي ثانية |
| نطاق الطيف | 300-1200 نانومتر (قابل للتمديد حتى 1700 نانومتر) |
| مطابقة الطيف | 0.875-1.125 (الفئة A+) |
| نطاق شدة الإضاءة | 700-1200 واط/م² |
| عدم الاستقرار الزمني للإشعاع | < 1% (الفئة A+) |
| عدم انتظام الإشعاع | < 1% (الفئة A+) |
| مدة النبضة | 10 مللي ثانية - 100 مللي ثانية، قابل للتعديل بخطوات 10 مللي ثانية |
| نوع القياس | ومضة واحدة |
| نوع المسح | Isc-Voc أو Voc-Isc |
| خطأ التكرار | < 0.3% في 40 اختبارًا متواصلًا؛ < 0.5% في 100 اختبار متواصل |
| اتجاه الوجه المشمس | جانبي |
| وضع التطبيق | غير متصل |
نطاق القياس والدقة
| المعامل | النطاق | الدقة |
|---|
| الجهد الكهربائي | 1 فولت، 4 فولت، 10 فولت، 70 فولت، 200 فولت | 0.003% |
| التيار | 2 أمبير، 4 أمبير، 15 أمبير، 25 أمبير، 40 أمبير | 0.003% |
أداء وقت الدورة
| مدة النبضة | وقت الدورة |
|---|
| 10 مللي ثانية | ≤ 5 ثوانٍ |
| 100 مللي ثانية | ≤ 30 ثانية |
قدرات المعايرة
| نوع المعايرة | مدعوم |
|---|
| معايرة Pmax | نعم |
| معايرة Isc | نعم |
| معايرة Voc | نعم |
| معايرة درجة حرارة الوحدة | نعم |
| معايرة درجة حرارة الغرفة | نعم |
المواصفات الفيزيائية
| المعامل | المواصفة |
|---|
| الأبعاد | 3000 مم × 2000 مم × 5030 مم |
| مصدر الطاقة | 220 فولت ± 10%، 25 أمبير، 50 هرتز |
| التكوين القياسي | جهاز اختبار + كمبيوتر + شاشة عرض + برنامج + مستشعر درجة حرارة بالأشعة تحت الحمراء + ماوس + لوحة مفاتيح |
المعلمات المقاسة (حفظ تلقائي وعرض تلقائي)
| رقم | المعامل | المؤشر | حفظ تلقائي | عرض تلقائي |
|---|
| 1 | منحنى I-V | - | نعم | نعم |
| 2 | منحنى P-V | - | نعم | نعم |
| 3 | مراقبة شدة الشمس | - | نعم | نعم |
| 4 | تيار الدائرة القصيرة | Isc | نعم | نعم |
| 5 | جهد الدائرة المفتوحة | Voc | نعم | نعم |
| 6 | كثافة التيار | Jsc | نعم | نعم |
| 7 | الطاقة القصوى | Pmax | نعم | نعم |
| 8 | الكفاءة | Eff | نعم | نعم |
| 9 | عامل الملء | FF | نعم | نعم |
| 10 | التيار عند القدرة القصوى | Ipm | نعم | نعم |
| 11 | الجهد عند القدرة القصوى | Vpm | نعم | نعم |
| 12 | المقاومة التسلسلية | Rs | نعم | نعم |
| 13 | مقاومة التحويلة | Rsh | نعم | نعم |
| 14 | درجة حرارة البيئة | EnvTemp | نعم | نعم |
| 15 | تيار الخلية المرجعية القصير | StdIsc | نعم | نعم |
| 16 | درجة حرارة الخلية المرجعية | RCTemp | نعم | نعم |
| 17 | درجة حرارة الجزء الخلفي للوحدة | Tmod | نعم | نعم |
| 18 | معلمات محددة أخرى | مخصص | نعم | نعم |
متطلبات المنشأة
| البند | المتطلبات |
|---|
| درجة حرارة التشغيل | 10-30 درجة مئوية |
| درجة الحرارة المثالية | 25 +/- 2 درجة مئوية |
| الرطوبة | 40-60% RH |
| الحد الأقصى لاستهلاك الطاقة | 5 كيلوواط |
| استهلاك الطاقة المقدر | 3 كيلوواط |
| الهواء المضغوط | 0.6-0.8 MPa (800 L/min) |
| التأريض/التوصيل الأرضي | مطلوب |
| بيئة الغاز المسببة للتآكل | غير مسموح |
المزايا التقنية
تميز القياس من الفئة A+A+A+
يحقق جهاز GIV-20A2616 أعلى تصنيف A+A+A+ عبر جميع المعايير الثلاثة الحرجة: مطابقة الطيف، وعدم الاستقرار الزمني، وعدم التجانس المكاني للإشعاع. وهذا يضمن أن كل قياس يلبي ويتجاوز المعايير الدولية الأكثر صرامة لدقة اختبار الوحدات الشمسية.
تقنية GSN لاختبار الوحدات عالية السعة
تمكن تقنية GSN الحاصلة على براءة اختراع من القياس بومضة واحدة مع فترات نبض قابلة للتعديل من 10 مللي ثانية إلى 100 مللي ثانية. وهذا يلغي بشكل فعال تأثير السعة الذي يسبب قراءات غير دقيقة في الوحدات عالية الكفاءة مثل خلايا PERC و N-type و IBC و HJT. بالنسبة لوحدات HJT على وجه التحديد، توفر مدة النبض 30 مللي ثانية قياسات دقيقة لخصائص IV، مما يحل أحد أكثر متطلبات الاختبار تحديًا في تصنيع الخلايا الكهروضوئية الحديثة.
تغطية طيفية ممتدة
مع نطاق طيفي قياسي 300-1200 نانومتر وخيار التمديد إلى 1700 نانومتر، يستوعب جهاز GIV-20A2616 متطلبات الاختبار لجميع التقنيات الكهروضوئية تقريبًا، بما في ذلك الوحدات ذات الأغشية الرقيقة المتقدمة والوحدات غير المتجانسة التي تتطلب تغطية طيفية أوسع.
قابلية تكرار فائقة الارتفاع
يتم الحفاظ على خطأ قابلية التكرار أقل من 0.3% عبر 40 اختبارًا متتاليًا وأقل من 0.5% عبر 100 اختبار متتالي، مما يضمن مراقبة جودة متسقة وموثوقة طوال عمليات الإنتاج عالية الحجم.
منصة برمجيات شاملة
التحكم في الوصول متعدد المستويات: حسابات دخول منفصلة لموظفي مراقبة الجودة والمشغلين والفنيين وموظفي الصيانة مع إعدادات أذونات قابلة للتخصيص لكل دور
تصنيف متقدم للوحدات: فرز الوحدات تلقائيًا إلى درجات مختلفة بناءً على Pmax أو الكفاءة أو Imax أو I-Id أو أي مجموعة من المعلمات
تصدير بيانات مرن: دعم تنسيقات MDB و CSV و JPG مع القدرة على حفظ بيانات القياس المعايرة والأصلية
مراقبة في الوقت الفعلي: مراقبة حية لشدة الضوء طوال عملية الاختبار تضمن ظروف اختبار متسقة
منطقة اختبار كبيرة مع إنتاجية سريعة
تستوعب المنطقة المضيئة 2600 مم × 1600 مم جميع الوحدات الشمسية القياسية والكبيرة الحجم. مع أوقات دورة تصل إلى 5 ثوانٍ عند مدة نبض 10 مللي ثانية، يدعم النظام متطلبات خط الإنتاج عالي الإنتاجية دون المساس بجودة القياس.
توافق عالمي مع الوحدات
تم تصميم GIV-20A2616 لاختبار الطيف الكامل لتقنيات الوحدات الشمسية بما في ذلك السيليكون البلوري والأغشية الرقيقة و PERC و HIT و HJT و N-type و IBC و TOPCon والوحدات المكدسة ونصف الخلايا والوحدات التي تستخدم تكوينات EVA عالية الشفافية وشريط LRF وشريط LHS.
عمر طويل لمصباح الزينون
يوفر مصباح الزينون ما يصل إلى 100,000 ومضة عند مدة نبض 10 مللي ثانية، مما يقلل بشكل كبير من تكاليف المواد الاستهلاكية ووقت التوقف للصيانة على مدى عمر المعدات.
تطبيقات المنتج
مراقبة جودة خط إنتاج الألواح الشمسية
يعمل جهاز GIV-20A2616 كمحطة مراقبة جودة أساسية في المرحلة النهائية في خطوط تصنيع الألواح الشمسية التي تتراوح سعتها من 5 ميجاوات إلى 1 جيجاوات. يوفر التحقق الدقيق من الأداء الكهربائي لضمان أن كل وحدة تغادر خط الإنتاج تلبي تصنيفات الطاقة والكفاءة المحددة. تعتمد مرافق التصنيع التي تنتج خلايا M6 و M10 و M12 وغيرها من تنسيقات الخلايا على هذا المختبر لتصنيف الطاقة الدقيق وتصنيف الوحدات.
تصنيع الوحدات عالية الكفاءة
مع تقنية GSN والقدرة على النبض الطويل، تم تحسين محاكي الشمس هذا خصيصًا لخطوط الإنتاج التي تصنع وحدات عالية الكفاءة من الجيل التالي بما في ذلك تقنيات PERC و TOPCon و HJT و IBC و ABC و HPBC. تضمن مدة النبض القابلة للتعديل من 10 مللي ثانية إلى 100 مللي ثانية قراءات دقيقة بغض النظر عن خصائص السعة لتقنية الخلية.
إنتاج الوحدات المكدسة ونصف الخلايا
يوفر النظام اختبارًا دقيقًا لهياكل الوحدات المتقدمة بما في ذلك الوحدات المكدسة وتكوينات نصف الخلايا. تمثل تصاميم الوحدات هذه تحديات اختبار فريدة بسبب طرق التوصيل الخاصة بها، وتضمن قدرات القياس المرنة لجهاز GIV-20A2616 توصيفًا دقيقًا لـ IV.
اختبار الوحدات ذات الأغشية الرقيقة و BIPV
مع نطاق الطيف القابل للتمديد حتى 1700 نانومتر، يستوعب جهاز GIV-20A2616 تقنيات الأغشية الرقيقة بما في ذلك وحدات CIGS و CdTe، بالإضافة إلى منتجات الخلايا الكهروضوئية المدمجة في المباني (BIPV) التي قد تستخدم تنسيقات وحدات غير قياسية.
مختبرات البحث والتطوير
تستفيد مرافق البحث والتطوير التي تطور تقنيات خلايا جديدة وتكوينات وحدات من دقة القياس العالية (0.003% لكل من الجهد والتيار) وإخراج المعلمات الشامل، مما يوفر بيانات توصيف كهربائي مفصلة لتطوير المنتج وتحسينه.
الاختبار والشهادات من طرف ثالث
يمكن لمختبرات الاختبار المستقلة وهيئات إصدار الشهادات استخدام دقة الفئة A+A+A+ وقدرات المعايرة الواسعة لإجراء تقييمات موثوقة لأداء الوحدات وفقًا لمعايير الاختبار الدولية.
اتصل بـ Ooitech للشراء
Ooitech هي شريكك الموثوق لحلول خطوط إنتاج الألواح الشمسية الكاملة، من المعدات الفردية مثل محاكي الشمس Gsolar GIV-20A2616 إلى خطوط الإنتاج المتكاملة بالكامل بسعات تتراوح من 5 ميجاوات إلى 1 جيجاوات. نحن لا نقدم فقط توريد المعدات ولكن أيضًا التدريب على عمليات الإنتاج، وتوفير المواد الخام، ودعم التركيب، وخدمات ما بعد البيع الشاملة.
سواء كنت بحاجة إلى جهاز اختبار IV مستقل للوحدات الشمسية لمراقبة الجودة أو خط إنتاج ألواح شمسية أوتوماتيكي كامل MBB، فإن فريقنا ذو الخبرة جاهز لتقديم حلول مخصصة تناسب متطلبات إنتاجك.
تواصل مع Ooitech:
البريد الإلكتروني: [email protected]
الهاتف: +8618571646990
واتساب: +8615961592660
المكتب الرئيسي: مركز ووهان يانغتسي، ووهان، الصين
الموقع الإلكتروني: www.ooitech.com
موارد مفيدة:
اتصل بنا اليوم للحصول على عرض أسعار مفصل واستشارة فنية حول جهاز اختبار الألواح الشمسية Gsolar GIV-20A2616 أو أي معدات أخرى لخط إنتاج الألواح الشمسية. فريقنا متاح لمساعدتك في بناء منشأة تصنيع وحدات شمسية عالمية المستوى.
